X荧光光谱仪检测电镀镀层厚度的原理，主要是基于X射线与物质的相互作用，具体如下：

原理核心

当X射线照射到电镀镀层表面时，镀层中的原子会被激发，从而发射出具有特定能量的荧光X射线（特征X射线）。不同元素的特征X射线能量不同，且其强度与镀层的厚度相关。通过检测这些荧光X射线的能量和强度，结合相应的物理模型和算法，即可计算出镀层的厚度。

简单理解类比

就像用光照一叠纸，纸越厚，透过的光强度越弱。X荧光光谱仪则是通过检测X射线穿过镀层后（或被镀层反射的）特征信号强度，来反推镀层的“厚度"。

关键优势

- 非破坏性：无需破坏样品，可直接检测。

- 多元素同时分析：能同时检测多种金属镀层（如镍、铜、铬等）的厚度。

- 快速精准：几分钟内即可得到结果，适合工业生产中的质量监控。