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多毛细管配置X射线荧光测厚仪 技术服务的响应期限：提供好的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。 5） 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪 工作环境要求： 2.1环境温度要求：15℃-30℃ 2.2环境相对湿度：70% 2.3工作电源：交流220±5V 2.4周围不能有强电磁干扰。

金、钯、镍、铜等多元素X射线光谱测厚仪 一.技术指标： 1.1分析元素范围：S-U 1.2同时可分析24个元素，五层镀层以上 1.3分析厚度检出限最高达0.005μm 1.4定位精度：0.02mm 1.5测量时间：5s以上 1.6计数率：0-8000cps 1.7 Z轴升降范围：0-140mm 1.8图像联动系统，可编程，可实现单点，多点，网格多种控制 1.9X/Y平台可移动行程

电镀镀金厚度检测仪器 单层厚度范围： 金镀层0－8um, 铬镀层0-15um, 其余一般为0-30um以内， 可最小测量达0.001um。 多层厚度范围: Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析

电镀件镀层厚度检测仪 检测电镀层厚度的方法有很多。根据检测方法的原理可以分为物理法和化学法两大类。化学法有溶解法、计时流液法、电量法等；物理法有直接测量法、质量法、磁性法、β射线反射法、X射线荧光法、多相显微镜法、轮廓仪法等。

X射线光谱法测试电镀层仪器 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）等。

膜厚测试仪测量电镀层厚度 技术指标： 1.1 分析元素范围：S-U 1.2 同时可分析24个元素，五层镀层以上 1.3 分析厚度检出限最高达0.005μm 1.4 定位精度：0.02mm 1.5 测量时间：5s以上 1.6 计数率：0-8000cps 1.7 Z轴升降范围：0-140mm 1.8 图像联动系统，可编程，可实现单点，多点，网格多种控制

pcb线路板电镀镀层厚度检测仪 软件应用 -单镀层测量 -线性层测量，如：薄膜测量 -双镀层测量 - 针对合金可同时进行镀层厚度 -三镀层测量。 -吸收模式的应用DIN50987.1/ISO3497-A2 -励磁模式的应用DIN50987.1/ISO3497-A1